GX53倒置金相顯微鏡具有清晰圖像和高倍分辨率。該顯微鏡的模塊化設(shè)計(jì)擁有包含編碼物鏡轉(zhuǎn)換器和軟件在內(nèi)的附件，可以更方便地進(jìn)行定制，以滿(mǎn)足您的要求。

快速分析較厚的大尺寸樣品材料

專(zhuān)為鋼鐵、汽車(chē)、電子和其他制造行業(yè)設(shè)計(jì)的GX53倒置金相顯微鏡能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像。將該顯微鏡與PRECiV圖像分析軟件配合使用時(shí)，從觀察到圖像分析和報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)流程都將變得更加順暢。

快速檢測(cè)，功能先進(jìn)

快速觀察、測(cè)量和分析金相結(jié)構(gòu)。

先進(jìn)的分析工具

1.采用組合觀察方法獲得出色圖像；

2.輕松生成全景圖像；

3.生成全聚焦圖像；

4.采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域；

專(zhuān)為材料科學(xué)而優(yōu)化

1.專(zhuān)為材料科學(xué)而設(shè)計(jì)的軟件；

2.符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析  ；

人性化

即使是新手操作員也可以輕松完成樣品觀察、結(jié)果分析和報(bào)告創(chuàng)建。

1.輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置；

2.用戶(hù)指導(dǎo)讓高級(jí)分析變得更加簡(jiǎn)單；

3.高效生成報(bào)告；

先進(jìn)的成像技術(shù)

我們成熟可靠的光學(xué)和成像技術(shù)可提供清晰的圖像和可靠的結(jié)果。

1.可靠的光學(xué)性能：波前像差控制；

2.清晰的圖像：圖像陰影校正；

3.一致的色溫：高強(qiáng)度白光LED照明；

4.精確測(cè)量：自動(dòng)校準(zhǔn)；

模塊化

根據(jù)您的應(yīng)用要求選擇所需的組件。

1.打造專(zhuān)屬于您的系統(tǒng)：利用各種可選組件獲得全面定制的系統(tǒng) 。

先進(jìn)的分析工具

GX53倒置金相顯微鏡的各種觀察功能可提供清晰、銳利的圖像，讓您能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢測(cè)。PRECiV圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為樣品評(píng)估和結(jié)果記錄提供更多選擇。

高數(shù)值孔徑和長(zhǎng)工作距離相結(jié)合

物鏡對(duì)顯微鏡的性能至關(guān)重要。新的MXPLFLN物鏡通過(guò)同時(shí)實(shí)現(xiàn)數(shù)值孔徑和工作距離，為MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍時(shí)，分辨率越高，通常意味著工作距離越短，這會(huì)迫使樣品或物鏡在物鏡交換過(guò)程中縮回。在許多情況下，MXPLFLN系列的3 mm工作距離消除了這一問(wèn)題，使檢查速度更快，物鏡碰到樣品的可能性更小。

從不可見(jiàn)到可見(jiàn)：MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場(chǎng)與另一種觀察方法（例如明場(chǎng)或偏振）相結(jié)合，使您能夠查看傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器具有定向暗場(chǎng)功能，可在規(guī)定時(shí)間照射一個(gè)或多個(gè)象限，減少樣品的光暈，以便更好地觀察表面紋理。

輕松生成全景圖像：即時(shí)MIA

使用多圖像拼接（MIA）功能時(shí)，只需轉(zhuǎn)動(dòng)手動(dòng)載物臺(tái)上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接 — 電動(dòng)載物臺(tái)為可選件。PRECiV軟件采用模式識(shí)別生成全景圖像，非常適合檢查滲碳和金屬流動(dòng)情況。

生成全聚焦圖像：EFI

PRECiV軟件的景深擴(kuò)展（EFI）功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起，生成樣品的單幅全聚焦圖像。即使分析表面不平整的橫截面樣品時(shí)，EFI也能創(chuàng)建全聚焦圖像。

EFI配合手動(dòng)或電動(dòng)Z軸聚焦裝置，可生成高度圖像，對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行可視化觀察。

利用HDR同時(shí)采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用先進(jìn)圖像處理技術(shù)的高動(dòng)態(tài)范圍（HDR）可調(diào)整圖像內(nèi)的亮度差異，從而減少眩光。該功能還有助于增強(qiáng)低對(duì)比度圖像的對(duì)比度。HDR可用于觀察電子器件中的微小結(jié)構(gòu)并識(shí)別金屬晶界。

PRECiV軟件 — 針對(duì)材料科學(xué)優(yōu)化

GX53顯微鏡和PRECiV軟件可為滿(mǎn)足各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析方法提供支持。通過(guò)分步操作指導(dǎo)，用戶(hù)可輕松快捷地完成樣品分析。

顆粒分析 — 計(jì)數(shù)和測(cè)量解決方案

計(jì)數(shù)和測(cè)量解決方案采用高級(jí)閾值法，能夠可靠地分離目標(biāo)（如顆粒和劃痕）與背景?？墒褂贸^(guò)50種不同的參數(shù)對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量或評(píng)級(jí)，包括形狀、大小、位置和像素特性等。

微觀結(jié)構(gòu)中的晶粒尺寸

測(cè)量晶粒尺寸并分析鋁、鋼晶體結(jié)構(gòu)（例如鐵素體和奧氏體）以及其他金屬的微觀結(jié)構(gòu)。

支持的標(biāo)準(zhǔn)：ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T

評(píng)估石墨球化率

評(píng)估鑄鐵樣品（球墨和蠕墨）的石墨球化率和含量。對(duì)石墨節(jié)點(diǎn)的形態(tài)、分布和大小歸類(lèi)。

支持的標(biāo)準(zhǔn)：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵

鑄鐵解決方案

高純度鋼中非金屬夾雜物含量的評(píng)定

對(duì)在惡劣視場(chǎng)采集圖像中的非金屬夾雜物或手動(dòng)發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進(jìn)行分類(lèi)。

支持的標(biāo)準(zhǔn)：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

含非金屬夾雜物的鋼

夾雜物惡劣視場(chǎng)解決方案

比較樣品圖像和參考圖像

對(duì)在惡劣視場(chǎng)采集圖像中的非金屬夾雜物或手動(dòng)發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進(jìn)行分類(lèi)。

支持的標(biāo)準(zhǔn)：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI